Разработка системы измерения статических параметров диодов
Целью работы является разработка системы измерения статических параметров диодов.
В процессе разработки проводился анализ действующих нормативных документов, методов измерения статических параметров полупроводниковых диодов.
В результате исследований были разработаны методики измерения статических параметров полупроводниковых диодов, алгоритм программы, программное обеспечение, которое позволило значительно сократить время измерения статических параметров полупроводниковых диодов, эксплуатационная документация.
Введение ……………………………………………………………………………………………………. 14
1 Полупроводниковые диоды и их измеряемые параметры ………………………… 16
1.1 Полупроводниковые диоды …………………………………………………………….. 16
1.2 Вольт-амперная характеристика диода. …………………………………………… 18
2 Средства измерения статических параметров диодов ……………………………… 29
2.1 Средства измерений вольт-амперной характеристики и параметров
полупроводниковых диодов ……………………………………………………………. 29
2.2 Основы измерения статических параметров полупроводниковых
приборов…………………………………………………………………………………………. 33
3 Разработка системы измерения статических параметров …………………………. 36
3.1 Составные части и технические характеристики системы ………………… 36
3.2 Назначение и принцип действия системы ………………………………………… 42
3.3 Программное обеспечение ASIXD …………………………………………………… 44
3.4 Проверка программного управления процессом измерения ……………… 50
3.5 Методики расчета погрешности ………………………………………………………. 51
4 Финансовый менеджмент, ресурсоэффективность и ресурсосбережение…. 59
4.2 SWOT-анализ ………………………………………………………………………………….. 61
4.3 Инициация проекта …………………………………………………………………………. 65
4.4 Планирование проекта…………………………………………………………………….. 66
4.5 Оценка эффективности от внедрения разработки …………………………….. 75
5 Социальная ответственность ………………………………………………………………….. 77
5.1 Производственная безопасность ……………………………………………………… 77
5.2 Анализ опасных факторов……………………………………………………………….. 86
5.3 Экологическая безопасность……………………………………………………………. 88
5.4 Безопасность в чрезвычайных ситуациях ………………………………………… 90
5.5 Правовые и организационные вопросы обеспечения безопасности ….. 92
5.6 Выводы по разделу …………………………………………………………………………. 94
Заключение ……………………………………………………………………………………………….. 95
Список литературы ……………………………………………………………………………………. 96
Приложение А (обязательное) Статические параметры диодов …………………… 98
Приложение Б (обязательное) Технические характеристики средств
измерения …………………………………………………………………. 101
Приложение В (обязательное) Алгоритмы измерения статических параметров
диодов ……………………………………………………………………………… 103
Приложение Г (обязательное) …………………………………………………………………… 108
Для специалистов в различных областях электроники не является
секретом, что основные параметры большинства полупроводниковых диодов
варьируются в достаточно широких пределах от экземпляра к экземпляру даже
в рамках одного и того же типономинала и при близких условиях испытаний,
не говоря уже об изменении характеристик каждого экземпляра в реальных
условиях эксплуатации. Такая нестабильность полупроводниковых диодов в
процессе их производства и эксплуатации не позволяет без принятия
специальных мер обеспечить высокую повторяемость параметров электронных
устройств, в составе которых используются полупроводниковые изделия.
На практике при разработке электронных схем проблему зависимости
параметров изделия в целом от параметров используемых в нем
полупроводниковых диодов удается решить путем ввода некоторой
избыточности по количеству активных и пассивных элементов для организации
различного рода обратных связей. Тем не менее, существуют области, в
которых просто невозможно обойтись без специализированных устройств для
измерения параметров полупроводниковых диодов и получения их ВАХ.
Прежде всего, они крайне необходимы в работе отбраковочных участков на
производстве полупроводниковых диодов.
Первые системы никакой автоматизации не имели.
Таким образом, появилась производственная необходимость в
разработке системы измерения статических параметров диодов, которая бы
позволяла не только производить измерения параметров различных классов
полупроводниковых диодов, но и при этом визуально отображать их основные
статические ВАХ. При этом необходимо, чтобы в ней была предусмотрена
возможность подключения к компьютеру для автоматизации процесса
тестирования и упрощения документирования результатов контроля.
Таким образом, объектом исследования данной работы выступает
система измерения статических параметров диодов.
Предметом исследования являются статические характеристики
полупроводниковых диодов.
Цель работы: разработка автоматизированной системы измерения
статических параметров диодов различных классов.
Задачи исследования:
1 Обзор существующих методов измерения статических параметров
полупроводниковых диодов.
2 Проектирование автоматизированной системы измерения статических
параметров диодов различных классов.
3 Изготовление и тестирование автоматизированной системы измерения
статических параметров диодов различных классов.
Реализация и апробация работы– результаты работы используются
внаучных исследованиях и в производственном процессе АО«НИИПП».
1 Полупроводниковые диоды и их измеряемые параметры
В рамках решения задач автоматизации процесса тестирования и
упрощения документирования результатов контроля, производства измерений
параметров различных классов полупроводниковых диодов и визуального
отображения их основных статические вольтамперных характеристик, была
разработана система измерения статических параметров диодов.
В ходе выполнения магистерской диссертации проводился анализ
действующих стандартов, методов измерения статических параметров
полупроводниковых диодов.
В ходе работы была разработана эксплуатационная документация
отвечающая законодательным требованиям, а также требованиям предприятия
АО «НИИПП», с целью проведения испытаний и аттестации.
Данная разработка позволит пройти предъявительские и приемо-
сдаточные испытания.
Экономический эффект для предприятия заключается в экономии
внутренних ресурсов, затрачиваемых на содержание работников.
Последние выполненные заказы
Хочешь уникальную работу?
Больше 3 000 экспертов уже готовы начать работу над твоим проектом!
4.8 (40 отзывов)
4.2 (5 отзывов)
4.2 (13 отзывов)
4.2 (25 отзывов)
5 (188 отзывов)
4.8 (13 отзывов)
4.7 (96 отзывов)
5 (8 отзывов)
5 (91 отзыв)
