Разработка системы измерения статических параметров диодов
Целью работы является разработка системы измерения статических параметров диодов.
В процессе разработки проводился анализ действующих нормативных документов, методов измерения статических параметров полупроводниковых диодов.
В результате исследований были разработаны методики измерения статических параметров полупроводниковых диодов, алгоритм программы, программное обеспечение, которое позволило значительно сократить время измерения статических параметров полупроводниковых диодов, эксплуатационная документация.
Введение ……………………………………………………………………………………………………. 14
1 Полупроводниковые диоды и их измеряемые параметры ………………………… 16
1.1 Полупроводниковые диоды …………………………………………………………….. 16
1.2 Вольт-амперная характеристика диода. …………………………………………… 18
2 Средства измерения статических параметров диодов ……………………………… 29
2.1 Средства измерений вольт-амперной характеристики и параметров
полупроводниковых диодов ……………………………………………………………. 29
2.2 Основы измерения статических параметров полупроводниковых
приборов…………………………………………………………………………………………. 33
3 Разработка системы измерения статических параметров …………………………. 36
3.1 Составные части и технические характеристики системы ………………… 36
3.2 Назначение и принцип действия системы ………………………………………… 42
3.3 Программное обеспечение ASIXD …………………………………………………… 44
3.4 Проверка программного управления процессом измерения ……………… 50
3.5 Методики расчета погрешности ………………………………………………………. 51
4 Финансовый менеджмент, ресурсоэффективность и ресурсосбережение…. 59
4.2 SWOT-анализ ………………………………………………………………………………….. 61
4.3 Инициация проекта …………………………………………………………………………. 65
4.4 Планирование проекта…………………………………………………………………….. 66
4.5 Оценка эффективности от внедрения разработки …………………………….. 75
5 Социальная ответственность ………………………………………………………………….. 77
5.1 Производственная безопасность ……………………………………………………… 77
5.2 Анализ опасных факторов……………………………………………………………….. 86
5.3 Экологическая безопасность……………………………………………………………. 88
5.4 Безопасность в чрезвычайных ситуациях ………………………………………… 90
5.5 Правовые и организационные вопросы обеспечения безопасности ….. 92
5.6 Выводы по разделу …………………………………………………………………………. 94
Заключение ……………………………………………………………………………………………….. 95
Список литературы ……………………………………………………………………………………. 96
Приложение А (обязательное) Статические параметры диодов …………………… 98
Приложение Б (обязательное) Технические характеристики средств
измерения …………………………………………………………………. 101
Приложение В (обязательное) Алгоритмы измерения статических параметров
диодов ……………………………………………………………………………… 103
Приложение Г (обязательное) …………………………………………………………………… 108
Для специалистов в различных областях электроники не является
секретом, что основные параметры большинства полупроводниковых диодов
варьируются в достаточно широких пределах от экземпляра к экземпляру даже
в рамках одного и того же типономинала и при близких условиях испытаний,
не говоря уже об изменении характеристик каждого экземпляра в реальных
условиях эксплуатации. Такая нестабильность полупроводниковых диодов в
процессе их производства и эксплуатации не позволяет без принятия
специальных мер обеспечить высокую повторяемость параметров электронных
устройств, в составе которых используются полупроводниковые изделия.
На практике при разработке электронных схем проблему зависимости
параметров изделия в целом от параметров используемых в нем
полупроводниковых диодов удается решить путем ввода некоторой
избыточности по количеству активных и пассивных элементов для организации
различного рода обратных связей. Тем не менее, существуют области, в
которых просто невозможно обойтись без специализированных устройств для
измерения параметров полупроводниковых диодов и получения их ВАХ.
Прежде всего, они крайне необходимы в работе отбраковочных участков на
производстве полупроводниковых диодов.
Первые системы никакой автоматизации не имели.
Таким образом, появилась производственная необходимость в
разработке системы измерения статических параметров диодов, которая бы
позволяла не только производить измерения параметров различных классов
полупроводниковых диодов, но и при этом визуально отображать их основные
статические ВАХ. При этом необходимо, чтобы в ней была предусмотрена
возможность подключения к компьютеру для автоматизации процесса
тестирования и упрощения документирования результатов контроля.
Таким образом, объектом исследования данной работы выступает
система измерения статических параметров диодов.
Предметом исследования являются статические характеристики
полупроводниковых диодов.
Цель работы: разработка автоматизированной системы измерения
статических параметров диодов различных классов.
Задачи исследования:
1 Обзор существующих методов измерения статических параметров
полупроводниковых диодов.
2 Проектирование автоматизированной системы измерения статических
параметров диодов различных классов.
3 Изготовление и тестирование автоматизированной системы измерения
статических параметров диодов различных классов.
Реализация и апробация работы– результаты работы используются
внаучных исследованиях и в производственном процессе АО«НИИПП».
1 Полупроводниковые диоды и их измеряемые параметры
В рамках решения задач автоматизации процесса тестирования и
упрощения документирования результатов контроля, производства измерений
параметров различных классов полупроводниковых диодов и визуального
отображения их основных статические вольтамперных характеристик, была
разработана система измерения статических параметров диодов.
В ходе выполнения магистерской диссертации проводился анализ
действующих стандартов, методов измерения статических параметров
полупроводниковых диодов.
В ходе работы была разработана эксплуатационная документация
отвечающая законодательным требованиям, а также требованиям предприятия
АО «НИИПП», с целью проведения испытаний и аттестации.
Данная разработка позволит пройти предъявительские и приемо-
сдаточные испытания.
Экономический эффект для предприятия заключается в экономии
внутренних ресурсов, затрачиваемых на содержание работников.
Хочешь уникальную работу?
Больше 3 000 экспертов уже готовы начать работу над твоим проектом!
4.5 (80 отзывов)
4.7 (18 отзывов)
4.9 (66 отзывов)
4.8 (211 отзывов)
4.6 (71 отзыв)
4.9 (522 отзыва)
4.8 (9 отзывов)
4.6 (522 отзыва)
4.6 (92 отзыва)
