Люминесценция и разрушение гетероструктур на основе InGaN/GaN при облучении сильноточным электронным пучком
Введение …………………………………………………………………………………………………………. 5
Глава 1. Обзор литературы и постановка задач диссертационной работы … 13
1.1 Взаимодействие СЭП с полупроводниками и диэлектриками………………….. 14
1.2 Излучательная рекомбинация в квантовых ямах InGaN…………………………… 17
1.2.1 Модель идеальной квантовой ямы …………………………………………………….. 17
1.2.2 Хвосты плотности состояний в квантовых ямах InGaN ……………………… 19
1.2.3 Пьезоэлектрические поля в квантовых ямах InGaN …………………………… 20
1.2.4 Модель двумерной комбинированной плотности состояний ……………… 21
1.2.5 Модель двумерной донорно-акцепторной рекомбинации в квантовых
ямах InGaN/GaN ……………………………………………………………………………………….. 24
1.2.6 Стимулированная люминесценция и лазерная генерация в
гетероструктурах InGaN/GaN ……………………………………………………………………. 25
1.3 Деградация гетероструктур на основе InGaN/GaN ………………………………….. 27
1.3.1 Деградация светодиодных гетероструктур на основе InGaN/GaN ………. 28
1.3.2 Катастрофическая деградация лазерных гетероструктур на основе
InGaN/GaN ……………………………………………………………………………………………….. 37
Выводы по главе 1 ……………………………………………………………………………………….. 39
Глава 2. Исследуемые образцы и методика эксперимента………………………….. 41
2.1 Образцы для исследования …………………………………………………………………….. 41
2.1.1 Гетероструктуры на основе квантоворазмерной активной области
InGaN/GaN ……………………………………………………………………………………………….. 41
2.1.2 Эпитаксиальные слои GaN с разной плотностью дислокаций ……………. 43
2.2 Методика эксперимента …………………………………………………………………………. 44
2.2.1 Время-разрешённая люминесцентная спектрометрия ………………………… 44
2.2.2 Низкотемпературные измерения спектров КЛ …………………………………… 49
2.2.3 Измерение интегральных спектров люминесценции………………………….. 50
2.2.4 Измерение спектров возбуждения и ФЛ при облучении Xe-лампой …… 52
2.2.5 Измерение спектров пропускания……………………………………………………… 53
2.2.6 Фотографирование спектров КЛ гетероструктур ……………………………….. 53
2.2.7 Фоторегистрация пространственного распределения свечения по
поверхности образцов ………………………………………………………………………………. 54
Глава 3. Особенности люминесценции гетероструктур InGaN/GaN и
эпитаксиальных слоёв GaN при возбуждении СЭП ……………………………………. 56
3.1 Стимулированная КЛ в гетероструктурах на основе InGaN/GaN …………….. 56
3.2 Флуктуации спектральных и амплитудных характеристик стимулированной
КЛ в гетероструктурах InGaN/GaN ………………………………………………………………. 61
3.3 Низкотемпературная КЛ InGaN – квантовых ям и слоёв GaN ………………….. 64
3.4 Влияние уровня возбуждения на спектрально-кинетические характеристики
спонтанной люминесценции гетероструктур InGaN/GaN ……………………………… 66
3.5 Время-разрешённая люминесценция гетероструктур InGaN/GaN ……………. 71
3.6 Фотовозбуждение и фотолюминесценция гетероструктур InGaN/GaN…….. 73
3.7 Вклад излучения сапфировой подложки в спектр КЛ исследуемых
структур ………………………………………………………………………………………………………. 79
3.8 Влияние плотности дислокаций на люминесценцию эпитаксиальных
слоёв GaN ……………………………………………………………………………………………………. 83
3.9 Обсуждение особенностей излучательной рекомбинации в
гетероструктурах InGaN/GaN при возбуждении СЭП …………………………………… 87
Выводы по главе 3 ……………………………………………………………………………………….. 94
Глава 4. Разрушение гетероструктур InGaN/GaN и эпитаксиальных слоёв
GaN при возбуждении СЭП ………………………………………………………………………….. 96
4.1 Морфология разрушений в гетероструктурах InGaN/GaN ……………………….. 96
4.2 Морфология разрушений в эпитаксиальных слоях GaN ………………………… 104
4.3 Обсуждение механизмов разрушения структур на основе нитрида галлия
под действием СЭП……………………………………………………………………………………. 109
4.4 Способ диагностики электрических микронеоднородностей в
гетероструктурах на основе InGaN/GaN ……………………………………………………… 113
Выводы по главе 4 ……………………………………………………………………………………… 120
Глава 5. Взаимодействие люминесценции гетероструктур InGaN/GaN с
электронно-пучковыми разрушениями …………………………………………………….. 122
5.1 Пространственное распределение спонтанной люминесценции InGaN-КЯ
в образцах с электронно-пучковыми разрушениями …………………………………… 122
5.2 Пространственное распределение стимулированной люминесценции
InGaN-КЯ в образцах с электронно-пучковыми разрушениями …………………… 124
5.2.1 Локальные «зеркала» ………………………………………………………………………. 124
5.2.2 Дифракционные микроструктуры …………………………………………………… 127
Выводы по главе 5 ……………………………………………………………………………………… 131
Основные выводы ………………………………………………………………………………………. 133
Список сокращений и условных обозначений …………………………………………… 136
Список литературы…………………………………………………………………………………….. 137
Актуальность темы. Исследование наноструктурированных материалов
является одним из наиболее активно развивающихся направлений современной
физики конденсированного состояния. В этих исследованиях важное место
отводится изучению люминесцентных свойств и радиационной стойкости
гетероструктур на основе квантоворазмерной активной области InGaN/GaN, что
связано с необходимостью решения новых фундаментальных и прикладных
проблем оптоэлектроники и нанофотоники.
Благодаря созданию и совершенствованию гетероструктур на основе
нитридов III-группы твердотельная электроника за последние два десятилетия
достигла впечатляющих результатов. На базе данных материалов разработаны
различные компоненты фотоники, силовой и СВЧ-электроники [1-3].
Потребность в гетероструктурах на основе InGaN/GaN продолжает неуклонно
расти. Производство высококачественных наногетероструктур с заданными
характеристиками и высокой надежностью требует, в первую очередь, глубокого
понимания механизмов излучательной рекомбинации и деградации в данных
материалах. Кроме того, в процессе выращивания гетероструктур необходимы
эффективные, экспрессные и недорогие методы их диагностики.
Степень разработанности темы исследования. Свойства наноразмерных
структур сильно отличаются от таковых для объёмных полупроводниковых
макрокристаллов и могут быть исследованы с применением современных
высокоинформативных методов, в частности метода импульсной
люминесцентной спектрометрии с временным разрешением и возбуждением
сильноточным электронным пучком (СЭП) наносекундной длительности.
Термин «сильноточный электронный пучок» используется в значении, которое
было заложено в него в первых работах [4-6] по исследованию взрывной
электронной эмиссии с применением высоковольтных генераторов импульсных
напряжений. На сегодняшний день СЭП успешно применяется в качестве
источника возбуждения люминесценции макрокристаллов [4-8], позволяя
получить информацию о процессах излучательной рекомбинации в образцах,
линейные размеры которых превышают глубину проникновения
высокоэнергетических электронов. Значение тока СЭП достигает величины
103 – 105 А. В отличие от слаботочных электронных пучков, плотность тока j
которых не превышает 10-5 А/см2, сильноточные характеризуются величиной
j ≥ 1 А/см2, что обусловливает создание высокого уровня и плотности ионизации
одновременно, формирование плотной электронно-дырочной плазмы (ЭДП),
передачу кристаллической решётке энергии, достаточной для быстрого разогрева
(термоудар), формирование больших электрических полей и интенсивных
продольных и изгибных акустических волн [4, 9].
В отличие от макрокристаллов возможности и преимущества применения
СЭП для исследования свойств наногетероструктур, выращенных в различных
технологических условиях, на момент начала данной работы были не изучены,
кроме того отсутствовали работы по определению радиационной стойкости
гетероструктур на основе InGaN-квантовых ям (КЯ), в частности их разрушения,
под действием СЭП, что необходимо для применения высокоэнергетических
электронных пучков в качестве источника возбуждения люминесценции данных
материалов.
Цель работы – экспериментальное выявление закономерностей
люминесценции и определение механизма разрушения гетероструктур на основе
квантоворазмерной активной области InGaN/GaN, выращенных на сапфировых
подложках, при облучении СЭП наносекундной длительности.
Для достижения поставленной цели решались следующие задачи:
1. Проведение измерений амплитудных и спектрально-кинетических
характеристик катодолюминесценции (КЛ) гетероструктур InGaN/GaN и
Помогаем с подготовкой сопроводительных документов
Хочешь уникальную работу?
Больше 3 000 экспертов уже готовы начать работу над твоим проектом!